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粒度測(cè)試儀

粒度測(cè)試儀符合GB7702.1-2008《顆?;钚蕴康脑囼?yàn)方法》要求,篩子屬于選配件

  • 產(chǎn)品型號(hào):KSD-II
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-09-04
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2158
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詳細(xì)介紹


粒度測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù):

類(lèi)型離心沉降粒度儀
測(cè)量范圍0.1~300(um)
測(cè)量準(zhǔn)確度150±2R±/min(%)
測(cè)量重復(fù)性偏心距20±1mm(%)
測(cè)量時(shí)間3min(s)


粒度測(cè)試儀符合GB7702.1-2008《顆?;钚蕴康脑囼?yàn)方法》要求,篩子屬于選配件

測(cè)定步驟

1  依據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求,選取一組相應(yīng)的篩層,按照篩孔順序大小排列,安放在粒度儀上。

2  用天平稱(chēng)取50g水分不大于5%的均勻試樣倒入儀器的最上篩層內(nèi),蓋上篩蓋,扣緊全套篩子。啟動(dòng)馬達(dá),同時(shí)掀動(dòng)秒表,讓儀器運(yùn)轉(zhuǎn)180±3s。

3  松開(kāi)夾子,拿出篩蓋,依次輕輕取下各篩層并將各層中的試樣用瓷盤(pán)分別收集??ㄔ诤Y孔上的碳粒可輕輕震拍篩框及用毛刷刷下,也作該篩層上的篩分。

4  在天平上依次稱(chēng)量,每一篩層及底盤(pán)內(nèi)的篩分質(zhì)量,分別與試樣總質(zhì)量進(jìn)行比較。求出各種顆粒的百分率。



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